ACCUD miernik grubości powłok z sondą 0 - 3500µm CFN3500B

ACCUD miernik grubości powłok 0 - 3500µm um/mil CFN3500B

Miernik grubości powłok z sondą typu F i N. Sonda typu F umożliwia pomiar niemagnetycznych powłok (cynk, miedź, emalia, tworzywa sztuczne itp.) na podłożach magnetycznych (żelazo, stal). Sonda typu N służy do pomiaru nieprzewodzących powłok (lakier, emalia, tworzywa sztuczne itp.) na podłożach przewodzących (cynk, miedź, aluminium). Urządzenie automatycznie dostosowuje kierunek wyświetlania, umożliwia zmianę jednostek µm/mil, posiada automatyczne włączanie/wyłączanie, podświetlany wyświetlacz oraz świadectwo kontroli producenta.

Specyfikacja techniczna:

• Automatyczne dostosowanie kierunku wyświetlania
• Konwersja jednostek µm/mil
• Automatyczne włączanie/wyłączanie
• Podświetlenie wyświetlacza
• Zakres pomiarowy: 0–3500 µm
• Dokładność: 2 µm (0–100 µm), 2% + 3 µm (≥100 µm)
• Rozdzielczość: 0,1 µm / 1 µm / 10 µm
• Minimalna powierzchnia pomiarowa: 25 × 25 mm
• Minimalny promień krzywizny: wypukłość 5 mm, wklęsłość 25 mm
• Minimalna grubość podłoża: materiał magnetyczny 0,2 mm, materiał niemagnetyczny 0,05 mm
• Pamięć: 100 zestawów danych
• Zasilanie: baterie AA
• Wymiary (dł. × szer. × wys.): 112 × 63 × 29 mm
• Waga: 85 g
• Świadectwo kontroli producenta

Wyposażenie standardowe:

• Jednostka główna: 1 szt.
• Folie kalibracyjne: 1 zestaw
• Podstawa kalibracyjna: 1 zestaw
• Baterie AA: 2 szt.